KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計

KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計

測量原理:
KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計天線發射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播,碰到被測介質表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質表面的距離成正比。
由于電磁波的傳播速度*，發射脈沖與接收脈沖的時間間隔很小（納秒量級）很難確認。
脈沖系列雷達物位計采用一種特殊相關解調技術，可以準確識別發射脈沖與接收脈沖的時間間隔，從而進一步計算出天線到被測介質表面的距離。
特點:
由于采用了先進的微處理器和*EchoDiscovery 回波處理技術，雷達物位計可以應用于各種復雜工況。
“虛假回波學習"功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。
多種過程連接方式及天線型式，使得KJT-RAPS60ZT系列雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數介質的測量等。采用脈沖工作方式，雷達物位計發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境均無傷害。
雷達物位計采用了高頻段的發射頻率，因而具有：
—波束角小，能量集中，具有強抗gan擾能力，大大提高了測量精度和可靠性；
—天線尺寸小，便于安裝和加裝防塵罩等天線防護裝置；
—測量盲區小，對于小罐測量也會取得良好的效果；
—波長短，對顆粒物質的料位測量依有良好效果。